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熱門關(guān)鍵詞： AccuPyc II 1345AccuPyc II 1345真密度儀，Accupyc II真密度儀 PPS 4.0PPS 4.0有創(chuàng)，IBP測試儀 6005, 6015, 6030, 6060, 6100, 6170Hans Rudolph非擴散氣體收集袋,Hans Rudolph非擴散氣囊 Partector 2naneos Partector 2納米粒子探測器 MT-3000MT-3024測長機，Gagemaker MT-3000測長機 MA710MA710數(shù)據(jù)記錄儀,ALMEMO710數(shù)據(jù)記錄儀 zyk6200zyk6200球形水聽器,zyk6200深海球形水聽器 BPG-1P便攜式脈沖發(fā)生器 IMP-2A-MCIMP-2A-MC電極阻抗測試儀,IMP-2A阻抗測試儀 BSI-2ABSI-2A雙相激勵隔離器，BSI-2A雙相電刺激器 BSI-1ABSI-1A雙相激勵隔離器,BSI-1A電刺激器 2400LE&I 2400L線性功率放大器,E&I 2400L功率放大器 2340Tegam 2340高壓放大器,Tegam 2340電壓放大器 GasD 8160-2000bInterscan GasD 8160-2000b甲醛測試儀,Interscan 8160-2000b甲醛測試儀 AG1020美國 T&C AG1020高頻放大器,AG1020放大器 SM 30ZHinstruments SM 30磁化率儀，SM30巖石磁化率儀

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

測試測量

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) 紅外相機高清相機校準(zhǔn)器個人劑量儀封裝密度分析儀絕緣測試儀光澤度計磁場計電導(dǎo)率表矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀電阻校準(zhǔn)箱深度計成像系統(tǒng) 電泳儀數(shù)字源表協(xié)議測試儀電阻儀頻譜分析儀光譜儀微歐計臭氧校準(zhǔn)儀捕捉器低阻抗率計測厚儀變送器功率分析儀安規(guī)測試儀測樹儀模塊磁鐵礦儀紅外熱像儀氣象站呼吸機分析儀硬度計膠結(jié)測試儀轉(zhuǎn)速表探頭轉(zhuǎn)速儀電壓表能量計激光功率計光纖功率計紅外觀察器紫外觀察器接收器熱電偶溫度計磁化率儀光功率計

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LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

產(chǎn)品型號：
更新時間：2024-12-07

簡要描述：LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù)，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現(xiàn)場升級的選項。

產(chǎn)品詳情

品牌	其他品牌	產(chǎn)地	進口
產(chǎn)品新舊	全新

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù)，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現(xiàn)場升級的選項。
系統(tǒng)可定制的涂層測量

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度（根據(jù)DIN EN ISO 2178）并通過渦流法測量非磁性導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電涂層的厚度（根據(jù)DIN EN ISO 2360）。

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042應(yīng)用
可靠的技術(shù)與舒適的工具相結(jié)合，例如將厚度值顯示為模擬指針，類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費選擇，可以滿足有抱負的用戶的所有愿望。

LEPTOSKOP 2042是一款經(jīng)濟型儀器，電池使用壽命超過100小時。

該儀器會記錄操作時間和測量次數(shù)，因此這些重要參數(shù)本身可用于正確跟蹤測試設(shè)備。

供貨范圍內(nèi)包括彩色橡膠保護套，并具有防滑保護功能，可在工業(yè)環(huán)境中保護儀器。

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042特點：
大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米，帶照明
校準(zhǔn)選項：
出廠前已校準(zhǔn)，可立即進行測量
在未知涂層上校準(zhǔn)*
零位校準(zhǔn)*
在未涂覆的基材上進行一次和多箔校準(zhǔn)*
校準(zhǔn)涂層材料*
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以單獨存儲在單獨的校準(zhǔn)文件中，也可以從那里重新加載。

可選擇的顯示模式，以最佳地適應(yīng)測量任務(wù)*
輸入和監(jiān)控限額*
在Windows©下可以輕松管理文件來存儲讀數(shù)*
可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
統(tǒng)計*
統(tǒng)計評估多達999個讀數(shù)
最小，最大，平均值，讀數(shù)數(shù)量，標(biāo)準(zhǔn)偏差，限值監(jiān)控
局部厚度和平均涂層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值一目了然

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042選型：
LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別：
基本 -質(zhì)量可靠的基本功能
統(tǒng)計 -附加統(tǒng)計評估
統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲 -統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲

如果需要，可以隨時將量規(guī)升級到高級和/或?qū)I(yè)級別。升級過程通過代碼執(zhí)行，可以在現(xiàn)場輸入代碼以解鎖模塊“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲”。如果要為新的測量需求添加功能，則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進行升級或購買新儀表。

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術(shù)數(shù)據(jù)

串行接口	用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB
電源	通過電池，USB或電源裝置
測量范圍	0-20000 µm（取決于探頭）
測量率	每秒高達2個讀數(shù)
存儲	最高 9999個讀數(shù)（最多140個文件）
測量不確定度（校準(zhǔn)后）	涂層厚度<100 µm：讀數(shù)的1％+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm：讀數(shù)的1.0.3％+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm：讀數(shù)的3..5％ /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm：讀數(shù)的5％+ /- 100 µm

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件

測試塊和校準(zhǔn)箔探頭定位裝置 -適用于所有微型探頭定位輔助 -適用于所有微型探針 PC軟件iCom-用于數(shù)據(jù)傳輸和整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理 PC軟件EasyExport-用于將單個讀數(shù)或完整文件輕松導(dǎo)出到Windows©程序

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