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    WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架,WEK-WS674 M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架

    • 產(chǎn)品型號(hào):WEK-WS674
    • 更新時(shí)間:2025-05-04

    簡(jiǎn)要描述:WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架,WEK-WS674M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架詳細(xì)介紹:WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架,WEK-WS674M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架主要輔助測(cè)試加速器機(jī)頭下患者平面M區(qū)內(nèi)外的泄漏等輻射劑量,支架根據(jù)WS674的方法在不同位置的孔內(nèi)放射熱釋光劑量片來(lái)測(cè)量泄漏輻射劑量應(yīng)在體模中測(cè)量,體模各邊比照射野至少大5cm

    產(chǎn)品詳情
    WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架,WEK-WS674 M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架主要輔助測(cè)試加速器機(jī)頭下患者平面M區(qū)內(nèi)外的泄漏等輻射劑量,支架根據(jù)WS674的方法在不同位置的孔內(nèi)放射熱釋光劑量片來(lái)測(cè)量泄漏輻射劑量應(yīng)在體模中測(cè)量,體模各邊比照射野至少大 5 cm;體模的深度至少比測(cè)量深度大 5 cm,入射表面垂直于參考軸,放置在正常治療距離。
    在照射野下,給出的電子能量分別測(cè)量雜散 X 射線占總吸收劑量的劑量比。


     

    WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架設(shè)計(jì)基于X 射線平均泄漏輻射的 24 個(gè)測(cè)量點(diǎn)分布示意圖

    WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架

    WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架,WEK-WS674 M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架配置清單:


    名稱(chēng) 數(shù)量 規(guī)格和用途
    探測(cè)器盤(pán)放置劑量片孔 41個(gè) 41個(gè)劑量片放置孔布置在圓盤(pán)不同位置上
    鋁管放置劑量片孔 32個(gè)  
    鋁管1 8件 10×10mm,長(zhǎng)1448mm;鋁管1,3,5,7,9,11,13,15編號(hào)與圓盤(pán)對(duì)應(yīng)編號(hào)連接在一起
    鋁管2 8件 10×10mm,長(zhǎng)965mm;鋁管2,4,6,8,10,12,14,16編號(hào)與圓盤(pán)對(duì)應(yīng)編號(hào)連接在一起
    定位銷(xiāo)鑼絲 16 M6鑼絲用來(lái)固定鋁管與器盤(pán)連續(xù)
    探測(cè)器托盤(pán) 1件 用于放置探測(cè)元件
    安裝說(shuō)明書(shū) 1份 /


    測(cè)試方法:
    X 射線照射時(shí)相對(duì)表面劑量檢測(cè)方法
     
    應(yīng)在體模中測(cè)量,體模各邊比照射野至少大 5 cm;體模的深度至少比測(cè)量深度大 5 cm,入射表 面垂直于參考軸,探測(cè)器放置在正常治療距離。
    應(yīng)從輻射束中移開(kāi)所有不用工具就可取下的輻射束形成裝置,所有均整過(guò)濾器應(yīng)留在其規(guī)定位置上,在照射野下,對(duì)表 2 中給出的電子能量分別測(cè)量相對(duì)表面劑量。
     
    透過(guò)限束裝置的泄漏輻射檢測(cè)方法
    X 射線穿過(guò)限束裝置
    測(cè)量條件如下:
     
    用至少 2 個(gè)十分之一值層的 X 射線吸收材料將射線出線口屏蔽。對(duì)非重疊式限束裝置,應(yīng)在最小照射野尺寸下測(cè)量;
    泄漏輻射處用輻射探測(cè)器測(cè)量,輻射探測(cè)器的橫截面應(yīng)≤1 cm2;
    應(yīng)在體模中吸收劑量深度處測(cè)量。
    泄漏輻射測(cè)量按如下方法進(jìn)行:
     
    將矩形照射野對(duì)稱(chēng)地設(shè)定成(X 方向)乘最?。╕ 方向);
    用輻射探測(cè)器測(cè)量 24 個(gè)點(diǎn),確定其平均值,求出相對(duì)于吸收劑量的百分比值;
    再對(duì)稱(chēng)地設(shè)定最小(X 方向)乘(Y 方向)照射野,重復(fù) A.3.1.2 b)的檢測(cè);
    對(duì)所有的 X 射線能量,重復(fù)上述測(cè)量。
    如果有一個(gè)多元限束裝置,則打開(kāi)可調(diào)節(jié)或可互換的限束裝置,以產(chǎn)生一個(gè)面積約為 300 cm2(約 18 cm×18 cm)的正方形照射野。把多元限束裝置關(guān)閉到與該照射野協(xié)調(diào)一致的最小值,用輻射探測(cè)器測(cè)量多元限束裝置屏蔽的區(qū)域。
    電子線穿過(guò)限束裝置
    測(cè)量條件如下:
    用 10 mm 與組織等效的材料作為建成模擬構(gòu)成,對(duì)所有尺寸的電子束限束器/限束系統(tǒng),在對(duì) 應(yīng)的和最小能量下,基于型式試驗(yàn)中規(guī)定的電子能量所測(cè)數(shù)據(jù)的最不利組合下,在正常治 療距離處做射線攝影;
    在幾何照射周邊外 2 cm 處的線和 M 區(qū)域邊界之間區(qū)域中定出吸收劑量點(diǎn)的位置;
    用一橫截面不大于 1 cm2 的輻射探測(cè)器進(jìn)行測(cè)量,探頭對(duì)于從輻射探測(cè)器下面的物質(zhì)散射的輻射要有足夠的防護(hù)。
     
    按如下方法進(jìn)行測(cè)量:
     
    在 M區(qū) 中,沿八條分割線,以 2 cm 的間隔,從幾何照射野周邊外 5 cm 的點(diǎn)到 M 邊 界內(nèi),用輻射探測(cè)器測(cè)量;
    對(duì)每個(gè)電子束限束器/限束系統(tǒng),確定輻射探測(cè)器讀數(shù)的平均值對(duì)應(yīng)參考軸上正常治療距離處 吸收劑量的百分比值。

    M 區(qū)域外的泄漏輻射測(cè)量(中子除外)
    測(cè)量條件如下:
     
    基于型式實(shí)驗(yàn)結(jié)果,在給出泄漏輻射的組合條件下;
    在所有的 X 射線能量和在的電子線能量下,確定泄漏輻射的點(diǎn),在這些點(diǎn)上用輻射探測(cè)器測(cè)量。

     
    WEK-WS674加速器M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架,WEK-WS674 M區(qū)內(nèi)外測(cè)量支架可以根據(jù)要求進(jìn)行定做!
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